CA-60 PCB lämpökameraanalysaattori 640×512 resoluutio lämpösuunnitteluun
Kohokohta:
◎ Valinnainen makrolinssi voi havaita 25um:n kohteita ja auttaa analysoimaan materiaalien suorituskykyä ja vikoja;
◎ Tehokas tieteellisen tason ohjelmisto liitetään tietokoneeseen USB-kaapelilla
◎ Ohjelmisto tarjoaa lämpökuvausvideota lämpötilatiedoilla ja tukee lämpötilajakauman offline-analyysiä;
◎ Tallenna täydet lämpötilan mittaustiedot, mukaan lukien pisteiden, viivojen, kehysten ja muiden alueiden maksimi-/minimilämpötila ja keskilämpötila;
◎ Tehokas graafinen tietotoiminto, voi asettaa emissiivisuuden alueen mukaan, muokata nimeä jne.;
◎ Vakaa jalusta ja monikulmaisesti säädettävä runko mukautuvat käyttäjän säätömenetelmiin;
◎ Nopeasti vaihdettava linssirakenne varmistaa tarkan lämpötilan mittauksen;
◎ Teräväpiirtolämpökuvat näyttämään IC-sirun nastojen tilan elävästi
◎ Manuaalinen tarkennus, kätevä tarkkaan tarkennukseen lähellä olevaan kohtaan
◎ Jännite-, virta- ja lämpötilakäyriä voidaan käyttää asiaan liittyvien muutosten etsimiseen
◎ Moniulotteinen data-analyysi tarjoaa yksityiskohtaisempia tietoja
◎ Modulaarinen analyysitietoikkuna mahdollistaa tietojen poimia käyttäjän haluamalla tavalla
◎ Pystyy yhdistämään ja työskentelemään ympäristön lämpötila-anturin, kuormitustehomittarin ja muiden antureiden kanssa samanaikaisesti
Yleiskatsaus
Dianyangin päivitetty CA-30/60 PCB Thermal Camera Analyzer ("CA") integroi kuvantamisen, lämpötilan mittauksen, analyysin ja tiedonkeruun tarjoamalla tehokkaita testitietoja koulutukseen, tieteelliseen tutkimukseen ja teollisuuden tarkastuksiin.
CA-30 ja CA-60 tukevat makrolinssien käyttöä, ja niissä on ainutlaatuinen vakaa tuki, nopea linssin vaihtorakenne ja ammattimainen tieteellinen tutkimusohjelmisto, joka ratkaisee käyttäjien kattavan data-analyysin, tehokkaan lämpötilan mittausanalyysin eri materiaalien ongelmat. , näkymän palautusanalyysi tiedostoista, joissa on lämpötilatietoja jne., mikä tarjoaa käyttäjille yksinkertaisemman ja joustavamman kokemuksen.
Analyysitila
IC- ja piirilevyanalyysitila；
E-savukkeen sumuttimen analyysitila ；
Moniulotteinen analyysitila；
Materiaalin lämpökapasiteetin analyysitila；
Vikaanalyysitila；
Tuotteen ominaisuudet
Korkealaatuisen lämpökuvausilmaisimen käyttöönotto; laaja lämpötilan mittausalue: -20 ℃ ~ 550 ℃
Kulman säätökehys, jonka säätötila on suunniteltu kokeilijoiden mukaiseksi
Suurikulmainen laajakulma- ja kaksoismikrolinssi voidaan vaihtaa nopeasti
Testattavat erikokoiset kohdeobjektit otetaan huomioon; pohjalevy voidaan purkaa tai jakaa
Suora yhteys USB:n kautta; kuvansiirto ilman viivettä; yksinkertainen liitäntä ja helppokäyttöisyys
Voidaan liittää tehoanalysaattoreihin ja lämpötila-antureisiin ympäristön lämpötilan, jännitteen, virran ja lämpötilatietojen moniulotteiseen analysointiin
Mikrolinssillä voidaan havaita φ=25um pienten esineiden lämpötilan muutoksia
Korkean resoluution kuva; ainutlaatuinen DDE-algoritmi; hyvin pienten esineiden tarkkailu
Ammattimaisella analyysiohjelmistolla voidaan tarkkailla, tallentaa ja havaita pienempiä yksityiskohtia ja rikkaampaa sisältöä
Korkean resoluution kuva; ainutlaatuinen DDE-algoritmi; hyvin pienten esineiden tarkkailu
Lämpöä johtavien materiaalien testaus ja analysointi Erilaisia lämpötilamittausalueita asetetaan ja tausta poistetaan materiaalien lämmönjohtamisprosessin havainnollistamiseksi.
Lämpökuitujen, integroitujen sirujen ja muiden hienojen materiaalien analyysi Kuva kuvassa -tilassa havaitun todellisen kohteen koko on (1,5*3)mm ja mikrolla voidaan tarkkailla sirussa olevia 25um kultalankoja tai pienempiä kohdeobjekteja. - linssi.
Sähkösavukkeen lämpötilansäätöanalyysi Seuraa nopeasti sumuttimen lämmitysnopeutta ja lämpötilaa
Piirilevyn lämpösuunnittelun analyysi Kun piirilevysiru lämpenee, käyttäjät voivat tarkistaa lämmön vaikutuksen alaiset komponentit asettelun säätämiseksi.
Materiaalien lämmönpoistoanalyysi Videotiedostoja, joissa on lämpötilatietoja, voidaan tallentaa rajoittamattoman ajan, minkä avulla voidaan toistuvasti analysoida materiaalien lämmönpoistokykyä ja tallentaa luotettavuustietoja.
Tuotteiden ja osien laatuanalyysi
Havaitsee lämpötilan muutokset reaaliajassa, seuraa maksimilämpötilaa, minimilämpötilaa ja keskilämpötilaa sekä antaa ylilämpötilahälytyksiä automaattisen tuotekäsittelyn aikana.
Piirilevyn pulssilämpöanalyysi Lämpöanalysaattori voi nopeasti kaapata joidenkin piirilevyn komponenttien satunnaisen pulssilämmön viasta johtuen.
Lämmitysmateriaalien lämpötilanmuutosprosessin analyysi eri jännitteillä ja virroilla Lämmitysjohtojen, lämmityskalvojen ja muiden materiaalien lämmitysnopeus, lämmitysteho ja lämmityslämpötila eri jännitteillä ja virroilla voidaan analysoida kvantitatiivisesti.
| Nimi | CA-30 | CA-60 |
| IR-resoluutio | 384*288 | 640*512 |
| NETD | <50mK@25℃，f#1.0 | <50mK@25℃，f#1.0 |
| Spektrialue | 8-14um | 8-14um |
| FOV | 29,2° X 21,7° | 48,7° X 38,6° |
| IFOV | 1,3 mrad | 1,3 mrad |
| Kuvan taajuus | 25 Hz | 25 Hz |
| Tarkennustila | Manuaalinen tarkennus | Manuaalinen tarkennus |
| Työlämpötila | -10 ℃ ~ +55 ℃ | -10 ℃ ~ +55 ℃ |
| Makro-objektiivi | Tukea | Tukea |
| Mittaus ja analyysi | ||
| Objektin lämpötila-alue | -20 ℃ ~ 550 ℃ | -20 ℃ ~ 550 ℃ |
| Lämpötilan mittausmenetelmä | Korkein lämpötila, alin lämpötila. ja Avg Temp. | Korkein lämpötila, alin lämpötila. ja Avg Temp. |
| Lämpötilamittauksen tarkkuus | ±2 tai ±2 % -20 ℃ ~ 120 ℃, ja ±3 % 120 ℃ ~ 550 ℃ | ±2 tai ±2 % -20 ℃ ~ 120 ℃, ja ±3 % 120 ℃ ~ 550 ℃ |
| Etäisyyden mittaus | (4 ~ 200) cm | (4 ~ 200) cm |
| Lämpötilan korjaus | Automaattinen | Automaattinen |
| Erillinen emissiivisyyssarja | Säädettävä välillä 0,1-1,0 | Säädettävä välillä 0,1-1,0 |
| Kuvatiedosto | Täyden lämpötilan JPG-termogrammi (radiometrinen-JPG) | Täyden lämpötilan JPG-termogrammi (radiometrinen-JPG) |
| Videotiedosto | MP4 | MP4 |
| Täysi radiometrinen lämpövideotiedosto | dyv-muoto, (avattu CA:n ohjelmistolla) | dyv-muoto, (avattu CA:n ohjelmistolla) |
CA-sarjan Scientific-Research GradeThermal Analyzerin käyttöopas
CA-sarjan Scientific-Research Grade Thermal Analyzer -tuotteen tekniset tiedot
